La Microscopia Elettronica a Scansione (Scanning Electron Microscopy-SEM) permette l’esecuzione di analisi morfologiche fino a 150.000 ingrandimenti e microanalisi qualitative e semi-quantitative di porzioni limitate o puntuali di campioni con il Microscopio Elettronico a Scansione.

L’elevato potenziale dello strumento dato dalla sua elevata profondità di campo abbinata all’elevata capacità d’ingrandimento ed alla possibilità d’identificare la natura chimica o chimico-fisica dei materiali in esame è massimizzata in AQM dalla lunga esperienza dei microscopisti SEM/EDS che possiedono piena dimestichezza nell’utilizzo della tecnica d’indagine e conoscenze metallurgiche estese.